会员登陆 | 会员注册
繁體中文
加入收藏
网站地图
试验箱产品
您现在的位置: 试验箱信息 >> 试验箱产品 >> 正文
-

半导体hast测试设备

点击数:228 标签:

来源时间为:2021-08-24

半导体hast测试设备,设备型号:HE-HAST-40【设备应用领域】HAST加速老化试验箱广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试,对上述产品的耐压力和气密性进行测试。【标准依据】GB/T2423.40-2013环境试验第2部分:试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热

半导体hast测试设备,设备型号:HE-HAST-401.设备型号:HE-HAST-402.设定温度: 100℃~ 132℃(蒸气温度)3.湿度范围:70~100蒸气湿度4.湿度控制稳定度:±3RH5.使用压力:1.2~2.89kg(含1atm)6.时间范围:0Hr~999Hr7.加压时间:0.00Kg~1.04Kg/cm2约45分8.温度波动均匀度:±0.5℃9.温度显示精度:0.1℃10.压力波动均匀度:±0.1Kg11.湿度分布均度:±3RH

半导体hast测试设备,设备型号:HE-HAST-40【试验箱材质】1.试验箱尺寸:直径400mmx深500(mm)圆型试验箱2.全机外尺寸:900x850x1800mm(W*D*H)立式3.内桶材质:不锈钢板材质(SUS#3163mm)4.外桶材质:不锈钢板材质或选喷塑5.保温材质:岩棉及硬质polyurethane发泡保温6.蒸汽发室加热管:钛管加热,永不生锈。

半导体hast测试设备,设备型号:HE-HAST-40控制面板【产品特点】1)采用进口耐高温电磁阀双路结构,在最大程度上降低了使用故障率。2)独立蒸汽发生室,避免蒸汽直接冲击产品,以免造成产品局部破坏。3)门锁省力结构,解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。4)试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

半导体hast测试设备,设备型号:HE-HAST-40【控制系统】1)采用台制台达彩色触控式PLC控制湿度和蒸汽温度(采用PT-100白金感温体).2)采用指针显示压力表.3)微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度和蒸汽湿度.4)手动入水阀(自动补水功能,可不停机连续试验).5)试验数据记录U盘导出,曲线查询。

半导体hast测试设备

重新预览

退出全屏

1/12

半导体hast测试设备,设备型号:HE-HAST-40【设备应用领域】HAST加速老化试验箱广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试,对上述产品的耐压力和气密性进行测试。【标准依据】GB/T2423.40-2013环境试验第2部分:试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热

半导体hast测试设备,设备型号:HE-HAST-401.设备型号:HE-HAST-402.设定温度: 100℃~ 132℃(蒸气温度)3.湿度范围:70~100蒸气湿度4.湿度控制稳定度:±3RH5.使用压力:1.2~2.89kg(含1atm)6.时间范围:0Hr~999Hr7.加压时间:0.00Kg~1.04Kg/cm2约45分8.温度波动均匀度:±0.5℃9.温度显示精度:0.1℃10.压力波动均匀度:±0.1Kg11.湿度分布均度:±3RH

半导体hast测试设备,设备型号:HE-HAST-40【试验箱材质】1.试验箱尺寸:直径400mmx深500(mm)圆型试验箱2.全机外尺寸:900x850x1800mm(W*D*H)立式3.内桶材质:不锈钢板材质(SUS#3163mm)4.外桶材质:不锈钢板材质或选喷塑5.保温材质:岩棉及硬质polyurethane发泡保温6.蒸汽发室加热管:钛管加热,永不生锈。

半导体hast测试设备,设备型号:HE-HAST-40控制面板【产品特点】1)采用进口耐高温电磁阀双路结构,在最大程度上降低了使用故障率。2)独立蒸汽发生室,避免蒸汽直接冲击产品,以免造成产品局部破坏。3)门锁省力结构,解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。4)试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

半导体hast测试设备,设备型号:HE-HAST-40【控制系统】1)采用台制台达彩色触控式PLC控制湿度和蒸汽温度(采用PT-100白金感温体).2)采用指针显示压力表.3)微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度和蒸汽湿度.4)手动入水阀(自动补水功能,可不停机连续试验).5)试验数据记录U盘导出,曲线查询。

-
  • 上一个试验箱产品:
  • 下一个试验箱产品: